検査設備一覧

キーエンス製　形状解析レーザ顕微鏡　VK-X1000/1050

非接触高速3D測定装置で、人によってバラつかない測定が最速5秒と瞬時に3D測定可能
波長661nmの赤色半導体レーザを光源とし、表示分解能5nm、測定倍率は42～28,800倍
1nmから50mmまでをナノオーダーで一瞬にスキャンし、従来は困難であった急峻な対象物も測れる。
電動ステージ　72×100×100　Z軸測定可能高さ±3.5mm　積載可能ワーク重量3kgまで、高さ70mm以下

ヴィジョン製非接触3次元測定顕微鏡　ホーク5000

3軸光学画像測定システム ダイナスコープ ステージ200×150mmサブミクロン精度の平面測定機能以外に、高倍率のレンズ交換により、Z方向の高さ計測が接眼レンズの無いアイピースレス設計技術（Dynascope光学技術）により測定者の負担を軽減した高精度光学測定顕微鏡非接触で行える3次元測定が可能なハイスペック機です。

手動ステージ 200×150×195
Z軸測定可能高さ±30.5mm
積載可能ワーク重量12kgまで、高さ244mm以下

キーエンス製画像寸法測定器 高精度タイプ IM-6145

φ25・・・±0.5μm 、 φ6・・・±0.1μm

測定範囲 φ25×高さ20 積載可能ワーク重量1kgまで

キーエンス製高精度2次元レーザ変位計 LJ-G030

現場でのインライン機上測定用の幅20～25mmのラインレーザ変位センサで、±10mmの高低差がある精密部品を1μm精度で、高さ・幅を瞬時に測定可能。

斉藤光学製デジタルマイクロスコープ

SKM-3000-PC 15～125倍
2次元計測ソフトAR-UMFによる円弧半径や角度計測なども可能です。

中央精機製ツールスコープ

TS-C型鏡筒

ピンゲージ フルセット保管庫

φ0.05～φ11.00、φ12.00～φ12.50、φ14.00～φ15.00まで0.01刻みセットで、φ1.470～φ1.530、φ2.470～φ2.530、φ7.998～φ8.003まで0.001刻み、φ8.005～φ8.050まで0.005刻みで、φ13.0～φ19.0までは0.1刻み、φ12.925～φ13.025、φ15.925～φ15.975、φ19.00～φ20.00、φ24.925～φ25.00、φ34.95～φ34.975まで0.025刻み、φ4.500～φ4.600まで0.002刻みセットでピンゲージをフルセットで備えており、その他ブロックゲージやデジタルマイクロメータなどの精密測定機器類にて万全な品質精度検査体制を整えています。

ステップブロックゲージセット

0.991～0.999　0.001刻み　ミツトヨ製
1.001～1.009　0.001刻み　ツガミ製
0.100～0.500　0.005刻み　ミツトヨ製